描述：聚創(chuàng)高低溫濕熱試驗(yàn)箱D型該設(shè)備主要是針對(duì)于用于電工、電子產(chǎn)品、儀器儀表、材料、元器件的高低溫及儲(chǔ)存試驗(yàn),廣泛用于航空、航天、電信、儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧刃袠I(yè)、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備等的加速濕熱試交變濕熱試驗(yàn)和恒定濕熱試驗(yàn)等、以便試贔在給定的環(huán)境條件下對(duì)其性能評(píng)價(jià)。檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
聚創(chuàng)高低溫濕熱試驗(yàn)箱D型該設(shè)備主要是針對(duì)于用于電工、電子產(chǎn)品、儀器儀表、材料、元器件的高低溫及儲(chǔ)存試驗(yàn),廣泛用于航空、航天、電信、儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧刃袠I(yè)、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備等的加速濕熱試交變濕熱試驗(yàn)和恒定濕熱試驗(yàn)等、以便試贔在給定的環(huán)境條件下對(duì)其性能評(píng)價(jià)。檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
聚創(chuàng)高低溫濕熱試驗(yàn)箱D型該設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的:
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
二、產(chǎn)品參數(shù)
三、產(chǎn)品特點(diǎn)
1、具有極寬的溫度控制范圍
2、具有極寬控制精度
3、具有獨(dú)立的超溫保護(hù)系統(tǒng)。
4、儀表采用進(jìn)口溫度控制儀,具有PI調(diào)節(jié)及自整定功能,溫度誤差在線修正功能
5、采用進(jìn)口制冷壓縮機(jī)組,冷端輸出控制,節(jié)約能耗,降低客戶使用成本
更多型號(hào)、設(shè)備需求、優(yōu)惠報(bào)價(jià)
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